Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have studied and optimized the breakdown voltage of enhancement-mode n-channel GaN hybrid MOS-HEMTs on sapphire substrate. These MOS-gated transistors, with different Mg doped p-type GaN layer underneath the unintentional doped AlGaN/GaN layer, have breakdown voltage as high as 1300 V using a dielectric isolation (DI) RESURF approach.
We report on the experimental demonstration of a novel n-channel GaN hybrid MOS-HEMT realized on AlGaN/GaN heterostructure on sapphire substrate. This enhancement-mode MOS-gated heterojunction transistor, with 3 mum channel length and 20 mum RESURF length, exhibited a specific on-resistance as low as 20 mOmega-cm2. Simulations indicated the strong dependence of device breakdown voltage on the doping...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.