Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
New powerful specific test structures are proposed to characterize the thermal resistance Rth of multi-fingered structures including side and thermal coupling effects. The benefit of such structures over standard ones is clearly demonstrated. Thanks to an original method, the derived Rth model is introduced in an NLDMOS SOI macromodel. The global HV model is able to reproduce the DC characteristics...
Understanding self-heating effect is essential in order to analyze and model the performances of high power transistors. In this paper a new test structure to model thermal coupling on multi-fingered devices is proposed. This structure allows extracting thermal coupling coefficients between different sources. Applied in the case of NLDEMOS devices on SOI technology, a basic model for these coefficients...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.