Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
As requirements on data volumes, rates, quality, merging, and analytics increase exponentially in the digital universe, semiconductor manufacturers are faced with a need for new approaches to data management and use across the Fab. These are often termed “big data” challenges. In our industry big data solutions will be key to scaling advanced process control (APC) solutions to finer levels of control...
Advanced process control (APC), which includes run-to-run (R2R) process control and fault detection and classification (FDC) is pervasive in fabs today. While APC provides many benefits, it also presents many implementation and operational challenges including significant up-front configuration cost, lack of solution accuracy resulting in false/missed alarms, and lack of a consistent capability for...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.