Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A comprehensive variation model is critical to achieve both competitive design and manufacturing yield in advanced technologies. Conventionally, as long as FEOL (front end of line) statistical model is appropriate, BEOL (back end of line) variations given by lumping multiple variation sources into few corners is enough to achieve reliable simulation results. However, as BEOL contribution is becoming...
A new proposal—multibeam (MB) and power combining (PC) folded waveguide (FW) circuit, which can enhance the interaction efficiency and output power of terahertz (THz) traveling-wave tubes, is presented in this paper. Operating with multiple electron beams and PC means that a larger beam current and higher combining power can be obtained. First, equivalent circuit model of MB-FW is used to analyze...
In this paper, we discuss how to implement the self heating and aging models with TMI. Various examples about self heating and aging simulations with TMI methodology are shown in this paper. Without trading-off the accuracy, the one with proposed TMI approach for self heating simulations takes much shorter simulation time.
Using simulation to assess the impacts of various reliability mechanisms to circuit performance has become prevail for advanced technologies due to smaller headroom (=Vdd-Vth) and less design margins. This paper reviews existing circuit aging simulation approaches with focus on TMI. The limitations of aging models are also discussed so that reliability simulations can be executed more correctly with...
In this paper, a “diversity” on-off-keying (OOK) optical code-division multiple-access (O-CDMA) scheme is proposed and analyzed. The scheme transmits multiple copies of an optical code per data bit of one in order to improve code performance. Our results show that the diversity OOK O-CDMA scheme reduces error probability with little degradation on spectral efficiency, under the assumptions of similar...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.