Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this work, tantalum oxide (TaOJ based ring contact Resistive Random Access Memory (RRAM) devices with varying TaOx thicknesses (5, 10 and 15 nm) were demonstrated and evaluated. TaOx layers were deposited using atomic layer deposition and were in contact with a Platinum (Pt) top electrode and Tantalum (Ta) sidewall electrode. RRAM devices with different TaOx thickness were compared to investigate...
New clathrate‐based phase‐change materials with cage‐like structures incorporating Cs and Ba guest atoms, are reported as a means of altering crystallization and amorphization behavior by controlling ‘guest‐cage’ interactions via intra‐complex guest vibrational effects. Both a high resistance to spontaneous crystallization, and long retention of the amorphous phase are achieved, as well as a low melting...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.