Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Temperature dependent activation energy (Ea) has been observed for backend low-κ (LK) and extreme LK (ELK) dielectric TDDB. We experimentally demonstrated that the charge transport through the LK/ELK is dominated by the Poole-Frenkel mechanism, even in the low E-field, and Cu-ion diffusion occurs at a later stage of stressing, which is more probable at high temperatures and in sub-65nm (40-28nm) technologies...
The short length on the electromigration lifetime is a useful effect to increase current limits in advanced circuits. A way to increase current limit is to consider the Blech effect. The electromigration threshold due to Blech effect in copper interconnect for 65 nm and 45 nm technology is reported in this study. The critical product (jL)c was determined by varying the metal length and stress current...
Wafer-level ramped voltage to dielectric breakdown testing (RVDB) on copper/low k interconnect dielectrics has been used for reliability assessment and is motivated by practical needs for shortened test cycle time and large sampling for accurate statistical characterization. This work has identified a meaningful correlation between RVDB and TDDB (time dependent dielectric breakdown), which demonstrates...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.