Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Process variation in advanced CMOS processes is an increasingly important influence in test efficiency, design optimization and yield learning. Yet, there is no efficient test process to assist designers to categorize chips for analyzing the influence of variation on their respective objectives. In this paper, we propose a test process and an analysis method with multiple clocks. Each chip is first...
Process variation comes from several aspects during IC manufacturing, resulting in tremendous yield loss in advanced CMOS process. Recently, post-silicon tuning techniques that could adaptively manipulate failed chips to compensate the variations have been widely studied. Yet, full-chip adjustments can also increase dynamic and leakage power consumption. A fine-grain voltage-control architecture was...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.