Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Previously, a minimal algorithm of length 70 N, N is the number of memory bits, was proposed for a subclass of dynamic faults. In this paper, a March-based fault location and full diagnosis algorithm of complexity 88 N+29 is proposed for the same subclass of dynamic faults in bit-oriented SRAMs.
In this paper, we propose a multiphase March-like algorithm for partial and full diagnosis of all simple static faults in static random access memories, as well as location of the position of the failed bit. In phase 1, a march-like algorithm of complexity 2N is proposed for partial diagnosis to differentiate between single-cell and two-cell faults. In phase 2, for two-cell faults, we propose a march-like...
The class of dynamic faults has been recently shown to be an important class of faults for the new technologies of Random Access Memories (RAM) with significant impact on defect-per-million (DPM) levels. Very little research has been done in the design of memory test algorithms targeting dynamic faults. Two March test algorithms of complexity 11N and 22N, N is the number of memory cells, for subclasses...
A March-based fault location algorithm of minimum length is proposed for bit-oriented static RAMs. A minimal March algorithm of complexity 18N, N is the number of memory words (bits), is defined in phase 1 for detection of all unlinked static faults and partial diagnosis. March-like algorithms of complexity N+O(1) are proposed in phase 2 to split the groups of faults with the same syndrome defined...
The class of dynamic faults has been recently shown to be an important class of faults for the new technologies of random access memories (RAM) with significant impact on DPM levels. Very little research has been done in the design of memory test algorithms targeting dynamic faults. Two March test algorithms of complexity 11N and 22N, N is the number of memory cells, for subclasses of two-operation...
In this paper, a new notion of 2-composite static faults covering all unlinked and (realistic) linked static faults is introduced. We have introduced 120 new linked fault primitives missing in the paper by Hamdioui et al (IEEE TCAD 2004), thus extending the universe of linked fault primitives known before by 25%. A march test algorithm of length 23N (N - number of memory words) for detection of linked...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.