The Infona portal uses cookies, i.e. strings of text saved by a browser on the user's device. The portal can access those files and use them to remember the user's data, such as their chosen settings (screen view, interface language, etc.), or their login data. By using the Infona portal the user accepts automatic saving and using this information for portal operation purposes. More information on the subject can be found in the Privacy Policy and Terms of Service. By closing this window the user confirms that they have read the information on cookie usage, and they accept the privacy policy and the way cookies are used by the portal. You can change the cookie settings in your browser.
Substrate noise problems continue to harass the design of a System-on-a-Chip (SoC). It is not obvious for the designer to identify the dominant substrate noise entry points. This paper proposes a new approach to gain insight in and predict the impact of substrate noise on mm-wave circuits. The approach is validated by measurements on a CMOS 48-53 GHz LC-VCO, designed in a UMC 0.13 mum technology.
We have investigated the interaction between power delivery and substrate coupling in terms of noise. From our results, we identify that an increased density of substrate contacts does not to any significance decrease noise on the power supply lines. However, the current injected into the substrate is highly dependent on higher-level grid/package inductance and substrate contact density. We have derived...
A 4-bit flash ADC is investigated in presence of substrate noise generated by switching activities in digital blocks. The impact of noise is analyzed in different building blocks of the ADC and is measured experimentally using a high-speed ADC test block fabricated in a 0.18-mum SiGe BiCMOS process. Measurement results show that noise spikes in the substrate cause distortion in the prototype ADC and...
Zaproponowano i scharakteryzowano metodę do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym. Przedstawiono także koncepcję podsystemu wspomagającego pomiar tego typu przebiegów, który może realizować praktycznie tę metodę i uwzględnia podstawowe ograniczenia związane z jego implementacją na podłożu układu scalonego wspólnym z układem będącym źródłem badanych przebiegów. Metoda...
Omówiono wyniki symulacji metodą elementów skończonych sprzężenia podłożowego w strukturach półprzewodnikowych, realizowanych na wybranych typach podłoża krzemowego. Symulacje przeprowadzono przy użyciu własnego pakietu do obliczeń metodą elementów skończonych SONMAP opracowanego w Katedrze Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Politechniki Szczecińskiej. Przy użyciu MES i analizy wrażliwościowej...
Set the date range to filter the displayed results. You can set a starting date, ending date or both. You can enter the dates manually or choose them from the calendar.