Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper describes a non-binary SAR ADC architecture that is reconfigurable at production testing time to increase the number of chips that meet a given sampling speed specification, i.e. to improve yield. A non-binary SAR ADC can realize higher sampling rates than a comparable conventional binary SAR ADC, by using overlapping SA ranges so that any errors due to incomplete settling of the internal...
A 0.35 mum double-poly CMOS 16 b SAR A/D converter uses self-calibration techniques to obtain frac12 LSB INL. The differential and single-ended THD at 1Msample/s are 101dB and 96 dB, respectively. Each ADC consumes 20 mW at 3 V and occupies 2.9 mm2 active area, resulting in a 0.9 pJ/b FOM. The chip includes 3 ADCs, 2 DACs, 8051-microcontroller, CAN controller, DMA controller, 64 K flash memory and...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.