Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A high level model is developed using circuit analysis to predict the synergy effect observed on a three stages operational amplifier. This model makes possible to explain and to predict the analog single event transients propagation in circuitry. The effect of total ionizing dose is taken into account by varying the model parameters using the monitoring of the usual supply current induced degradation...
A high level model is developed using circuit analysis to predict the synergy effect observed on a three stages operational amplifier. This model makes possible to explain and to predict the ASETs propagation in circuitry. The effect of total ionizing dose is taken into account by varying the model parameters using the monitoring of the usual supply current induced degradation of the operational amplifier.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.