Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This work presents the properties of nanocrystalline SiC(nc-SiC) films prepared by plasma enhanced chemical vapour deposition. A p-type silicon wafer with resistivity 2-7 Ωcm and (100) orientation was used as the substrate for the nc-SiC:H films. The concentration of species in the SiC films was determined by RBS and ERD. Chemical compositions were analyzed by IR spectroscopy. Film morphology was...
We have successfully prepared silicon quantum dots/amorphous silicon carbide multilayers by thermal annealing of stoichiometric hydrogenated amorphous silicon carbide (a-SiC:H)/ silicon rich hydrogenated amorphous silicon carbide (a-Si1-xCx) multilayers. Raman scattering spectroscopy and transmission electron microscope (TEM) measurement revealed that silicon quantum dots were formed in only a-Si1-x...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.