Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have studied the effect of substrate temperature in molybdenum (Mo) back contact deposition on its structural evolution, optical properties, and most importantly, the over-deposited CuIn1−xGaxSe2 solar cell performance. A series of Mo thin films was DC sputtered onto thermally oxidized Si at substrate temperatures from 25°C to 385°C. Real time spectroscopic ellipsometry (RTSE) was performed to...
Real time spectroscopic ellipsometry (RTSE) has been applied to study the magnetron sputter deposition of polycrystalline CdTe and CdS thin films on crystalline silicon wafer substrates held at different temperatures (Ts). The broadening parameters Γn of the dielectric function critical points (CPs) measured at room temperature for the CdS and CdTe films show variations with Ts, from which the group...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.