Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The purpose of this work is to investigate the effect of ohmic electrode processing on the breakdown voltage of AlGaN/GaN HEMTs. The impact of ultrasonic cleaning condition during the lift-off process on metal edge definition was investigated. It was verified that the shape of the ohmic electrode was indeed crucial for ensuring high breakdown voltage characteristics.
This paper describes breakdown characteristics of AlGaN/GaN high electron mobility transistors (HEMTs) with multi-finger gate patterns. We studied the spatial profile of electroluminescence (EL) from AlGaN/GaN HEMTs under high drain and near pinch-off gate bias. As a result, different EL emission profiles and breakdown characteristics were observed depending on the drain electrode pattern of the devices.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.