Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
To maximize the design efficiency of the test chip area and maintain the high accuracy measurement requirement of resistors and capacitors, a 4K-cells resistive and charge-base capacitive test structure array is designed for CMOS logic process development, monitor and model. The test chip utilizes 4-terminal (one of 4 is strongly grounded) Kelvin force/sense measurement for resistive-type and charge-base...
In this paper, a mismatch test structure in standard pair configuration using Kelvin method is introduced to better estimate the MOSFET local electrical fluctuations in sub-hundred nanometer technologies. Considering this test structure configuration, the impact of extern access connections on threshold voltage (Vt), gain factor (szlig) and drain current (ID) mismatch extraction is investigated. To...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.