Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Delivering mismatch data that reflect design reality is a real challenge. Indeed, from test structures to final data utilization, many steps can be the source of distortion. The first possible source of distortion is linked to the differences in terms of environment and spacing that might exist between test structure transistors and circuit transistors. The second potential source of distortion is...
In medical and automotive applications, device reliability needs to be assessed with great precision. It is therefore mandatory to investigate deeply the extrinsic behavior of memory devices to optimize their operating specifications in order to obtain the best endurance and retention characteristics. In this paper, we describe a new methodology to characterize the extrinsic behaviors of EEPROM devices...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.