2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) > 204 - 211
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
ISSN książki : | 1550-5774 |
e-ISBN książki : | 978-1-4799-1585-9 , 978-1-4799-1583-5 |
DOI | 10.1109/DFT.2013.6653607 |