Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Series reactors are used in distribution grids to reduce the short-circuit fault level. Some of the disadvantages of the application of these devices are the voltage drop produced across the reactor and the steep front rise of the transient recovery voltage (TRV), which generally exceeds the rating of the associated circuit breaker. Simulations were performed to compare the characteristics of a saturated core High-Temperature Superconducting Fault Current Limiter (HTS FCL) and a series reactor. The design of the HTS FCL was optimized using the evolutionary algorithm. The resulting Pareto frontier curve of optimum solution is presented in this paper. The results show that the steady-state impedance of an HTS FCL is significantly lower than that of a series reactor for the same level of fault current limiting. Tests performed on a prototype 11 kV HTS FCL confirm the theoretical results. The respective transient recovery voltages (TRV) of the HTS FCL and an air core reactor of comparable fault current limiting capability are also determined. The results show that the saturated core HTS FCL has a significantly lower effect on the rate of rise of the circuit breaker TRV as compared to the air core reactor. The simulations results are validated with short-circuit test results.