2012 28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) > 173 - 181
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
ISSN książki : | 1065-2221 |
e-ISSN książki : | 1065-2221 |
ISBN książki : | 978-1-4673-1110-6 |
e-ISBN książki : | 978-1-4673-1111-3 , 978-1-4673-1109-0 |
DOI | 10.1109/STHERM.2012.6188846 |