2010 28th VLSI Test Symposium (VTS) > 75 - 80
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
ISSN książki : | 1093-0167 |
ISBN książki : | 978-1-4244-6649-8 |
e-ISBN książki : | 978-1-4244-6650-4 , 978-1-4244-6648-1 |
DOI | 10.1109/VTS.2010.5469612 |
2010 28th VLSI Test Symposium (VTS) > 75 - 80
ISSN książki : | 1093-0167 |
ISBN książki : | 978-1-4244-6649-8 |
e-ISBN książki : | 978-1-4244-6650-4 , 978-1-4244-6648-1 |
DOI | 10.1109/VTS.2010.5469612 |