Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In situ surface X-ray scattering (SXS) measurements were carried out to study the structure of a Ag layer on a Au(111) electrode formed by underpotential deposition (upd) in sulfuric acid solution. Specular rod profiles showed that a monolayer of Ag was formed at a potential between the second and third upd peaks, and a bilayer of Ag was formed at a potential between the third upd peak and bulk deposition. Non-specular rod profiles demonstrated that electrochemically deposited Ag atoms both in the first and second layers were situated at the threefold hollow cubic closest packing (ccp) site of the underlying Au and Ag layers, respectively.