Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Ion electron emission microscopy (IEEM) can provide an alternative approach to microbeams for micrometric characterization of the sensitivity map to single event effects (SEE) of an electronic device. In IEEM technique, a broad (not focused) ion beam is sent onto the device under test (DUT). Secondary electrons emitted by the target surface during each ion impact are collected and focused by a system...
To map out device sensitivity with submicrometric resolutions it is traditional to use a microbeam. In recent years ion electron emission microscopy (IEEM) is emerging as an innovative method for device characterization. An advanced implementation of this instrument is under development at the SIRAD irradiation facility at the Legnaro national laboratory (LNL). The aim of this work is the final test...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.