Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
As the microelectronics technology continuously scales down, the probability of multiple cell upsets (MCUs) induced by radiation in memory devices increases. It is required a robust error correction code (ECC), that has also an area, energy-efficient silicon implementation, to protect electronic devices from MCUs. This article describes the conception, implementation, and evaluation of a new algorithm...
As the scale of integration of digital circuits increases, there is a corresponding increase in the probability of permanent failures in NoCs. As a result, it is essential that NoCs have fault tolerance mechanisms in order to cope with this issue. In this article, we present a NoC architecture for a fault-tolerant multiprocessor chip based upon the use of backup paths which are external to the router,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.