Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
NBTI and CHC are two leading reliability concerns. Their degradation rate, which is represented by the time exponent (n), varies with multiple factors, such as the measurement method and bias voltages (i.e., different n for sub-threshold or linear current). Such a variation significantly affects the long-term prediction of circuit lifetime. By investigating the underlying mechanisms and silicon data,...
Negative bias temperature instability (NBTI) has become the dominant reliability concern for nanoscale PMOS transistors. In this paper, a predictive model is developed for the degradation of NBTI in both static and dynamic operations. Model scalability and generality are comprehensively verified with experimental data over a wide range of process and bias conditions. By implementing the new model...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.