Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Electrothermal study of the n-type SOI Fin-FETs at 50-nm node is performed by analytical method and numerical algorithm. The self-heating effects (SHE) are investigated and validated by commercial software and other published analytical solutions. Further, the time-dependent thermal conduction equation is solved to get the temperature response under different signal stresses, including step pulse,...
Electrothermal characterization of the advanced SOI FinFETs is performed in this paper, which is based on some analytical equations as well as in-house developed finite difference algorithm. The temperature-dependent properties of thermal conductivities of all materials involved are considered in our simulation, with results validated by the commercial software ANSYS and other analytical solution...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.