Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Reliability issues including random telegraph noise (RTN) and program disturbance in floating gate (FG) NAND strings for different junction dosages are compared. Although the initial threshold voltage (VT) distributions are similar for various source/drain (S/D) dosages, these samples exhibit different amplitudes on read current fluctuation. This current noise will induce inaccuracy in sensing level...
Source/Drain Reliability issues in a floating gate (FG) NAND string with different junction dosages are investigated. A lighter junction dosage gets better sub-threshold swing (SS) and helps the shrinkage of device channel length. However, some drawbacks, such as worse current fluctuation and abnormal self-boosting (SB), can be observed as the side effects. Charge pumping technique is applied to identify...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.