Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Recent advances and new trends in high voltage SiC based MOSFETs are analyzed. The main focus is done on design optimization strategies for reducing the on-state resistance. Gate oxide treatments for improving the interface quality resulting in a lower channel resistance are reviewed as well as solutions for lowering the JFET and bulk resistance components. The 3rd quadrant operation, short-circuit...
Power 6H- and 4H-SiC DIMOS test structures have been fabricated using a new technology. P-well formation was optimised from simulation study and previous experiments on high-energy Al implantation. Reduction of Al presence at interface and reduced defect formation during implantation were the main objectives of this optimisation. Complementary surface implantation of boron was performed to adjust...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.