Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper reports an analysis of the STI-induced mechanical stress-related breakdown characteristics of the 40 nm PD SOI NMOS device with a closed-form formula. As verified by the experimentally measured data, the 2D simulation results and the closed-form formula, the breakdown voltage becomes higher for the device with a smaller S/D length of 0.17 ??m due to the weaker function of the parasitic...
This letter reports the shallow-trench-isolation (STI)-induced mechanical-stress-related breakdown behavior of the 40-nm PD-SOI NMOS device. As verified by the experimentally measured data and the 2D simulation results, breakdown occurs at a higher drain voltage for the device with a smaller S/D length of 0.17 mum due to the weaker function of the parasitic bipolar device, which is offset by the stronger...
The power-law model provides a relatively good correlation between the wafer-level (WL) time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test (highly accelerated) conducted on test structures and high-temperature operating life (HTOL) test (moderately accelerated) conducted on product. This is true when WL stress is configured identically to HTOL stress, and the difference in oxide area between the two...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.