Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this study, we present recent low frequency noise results obtained on Si/SiGeC Heterojunction Bipolar Transistors (HBTs) associated with a 0.13μm BiCMOS technology. Two technologies are studied, referenced as A and B, with high frequency figures of merit fT/fMAX (unity current gain frequency/maximum oscillation frequency) 220/280 GHz for technology A and 300/400 GHz for technology B. The LF Noise...
This work describes an UWB impulse transmitter with integrated antenna in the 60 GHz band implemented in CMOS65nm SOI technology. The transmitter aims low-power short-range high data-rate communication systems for fast-downloading applications. It consists of an oscillator that is switched on-and-off by the digital data to be transmitted and a medium power amplifier. The transmitter is fabricated...
In this paper, for the first time, silicon integrated tuner is presented aiming silicon transistor (HBT, MOSFET) millimeter wave (MMW) noise parameters (NFmin, Rn, Gammaopt) extraction through multi-impedance method. This tuner is directly integrated in on-wafer tested transistor test structure. Design, electrical simulation and MMW measurement of the Tuner are described showing capability from 60...
In this paper, the high-frequency properties of MOSFETs at low-temperature operation are investigated through measurements and electrical simulations. The experimental results show that the device achieves a 335-GHz fmax and a 300-GHz ft when operating at low temperature (78 K), which constitutes, respectively, a 78% and 34% improvement compared to the room temperature performances (296 K). The minimum...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.