Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
As device feature size continues to scale down to the nanometer regime, the decreasing critical charge fundamentally reduces noise margins of devices and in turn increases the susceptibility of the ICs to external noise sources such as particle strikes. While protection techniques for memory such as ECC are mature and effective, protections for logic errors remain imperfect. Full-blown redundancy...
The continued scaling of device dimensions and the operating voltage reduces the critical charge and thus natural noise tolerance level of transistors. As a result, circuits can produce transient upsets that corrupt program execution and data. Redundant execution can detect and correct circuit errors on the fly. The increasing prevalence of multi-core architectures makes coarse-grain thread-level...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.