Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In order to meet the demands of high-performance, high-speed, small form factor and multi-function integration in portable electronic products, the development of packaging technology now trends toward system-in-package (SiP) technology. Three-dimension (3D) integrated circuit technology provides a way to integrate complex micro systems through vertical interconnections among individual devices/chips...
Due to the raising requirements of functionality and performance in consumer electronics, high density package technology including high I/O interconnections and 3D chip-stacking technology have received a great number of attentions. Solder micro bumps are widely applied in high density interconnections packaging, but its bonding temperature is still high during process. During chip stacking process,...
In this study, a 3D IC integration system-in-package (SiP) with TSV/RDL/IPD interposer is designed and developed. Emphasis is placed on the Cu revealing, embedded stress sensors, non-destructive inspection, thermal modeling and measurement, and final assembly and reliability assessments.
For the demand of multi-function and higher performance in electronic devices, the three-dimensional chip stacking technology with fine pitch and high input/output (I/O) interconnections has emerged recently. In addition, with the joint size becoming smaller, the current that each solder bump carried continues to increase, resulting in high current flowing in each individual joint. Therefore, electromigration...
This paper discloses an ultra-thin and highly flexible package with embedded active chips. In this structure, there are no any supporting and permanent substrates needed. A 3 um copper foil with 18 um carrier layer was used as temporal substrate. The carrier layer will be removed after chip embedded process. After patterning and etching processes, the temporal copper foil became the bottom circuit...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.