Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a simulation based study of the impact of nanoscale bidirectional diode reverse saturation current, junction capacitance, and crossbar coupling capacitances on the read operation of nanoscale ReRAM devices in 1Diode 1ReRAM crossbar memory architectures. Our results show that the maximum achievable crossbar memory density is a strong function of the diode reverse saturation current,...
This paper presents a simulation-based study to understand the impact of coupling capacitance on the read operation of nanoscale RRAM devices in 1D1R crossbar memory architectures. Our simulation results show that the coupling capacitances can form additional sneak paths which can lead to RRAM HRS read failure. Increase in the coupling capacitance increases the transient charging current when an ultra-fast...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.