Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper will present the results of extracting the electrical characteristics of planar lines using the calibration comparison method for standards realized in IBM's advanced 0.13 mum CMOS process. For the first time, this method is applied to characterizing the customized standards on silicon up to 110 GHz. Additionally, this paper considers the influences of the reference benchmark calibration...
This paper presents a quantitative comparison of the reference multiline TRL and LRM+ for a customized set of standards in a CMOS process using IBM's 0.13 mum technology. This comparison was undertaken for the first time and covered a frequency range from 1 to 110 GHz. It was demonstrated that the accuracy of the on-wafer multiline TRL and LRM+ calibration were in very good agreement. Both methods...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.