Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have simulated silicon nanowire junctionless transistors with a 3 nm gate length within a Density Functional Theory (DFT) framework. We explored the response of transistors to source-drain bias, VDS, and gate voltage, Vg. Also, the effect of bulk and surface adatom in the wire cross section was evaluated.
We have simulated silicon nanowire junctionless transistors with a 3 nm gate length within a Density Functional Theory (DFT) framework. We explored the response of transistors to source-drain bias, VDS, and gate voltage, Vg. Also, the effect of bulk and surface adatom in the wire cross section was evaluated.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.