Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Three bits per cell NAND Flash Memory Technology for 30 nm and beyond has been successfully developed with floating gate technology. Tight natural Vth distribution, wide program/erase window, and good cell reliability such as program disturb, endurance and data retention are obtained. 8 level Vth distributions are successfully demonstrated.
The reliability of multilayer ceramic capacitors (MLCCs) with Ni internal electrodes has been studied trom the viewpoint of partial oxygen pressure (P O2 ) during firing. It is shown that the load-life time of the insulation resistance (1R) was prolonged by firing under low Po 2 annealing after firing, and the addition of dopants. It is also shown that the generation of oxygen...
The reliability of multilayer ceramic capacitors (MLCCs) with Ni internal electrodes has been studied from the viewpoint of partial oxygen pressure (P O2 ) during firing. It is shown that the load-life time of the insulation resistance (IR) was prolonged by firing under low P O2 , annealing after firing, and the addition of dopants. It is also shown that the generation...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.