Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Synchrotron X‐rays on the Swiss Norwegian Beamline and BM28 (XMaS) at the ESRF have been used to record the diffraction response of the PMN–PT relaxor piezoelectric 67% Pb(Mg1/3Nb2/3)O3–33% PbTiO3 as a function of externally applied electric field. A DC field in the range 0–18 kV cm−1 was applied along the [001] pseudo‐cubic direction using a specially designed sample cell for in situ single‐crystal...