Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The material presented is largely drawn from a rewiev paper given at the Royal Society Symposium on Low Dimensional Solids held in May 1984 and to be published in January 1985 in The Philosophical Transactions of the Royal Society (Phil. Trans. A). The following is the abstract for that paper.
Three techniques of transmission electron microscopy (satellite dark field imaging, high resolution imaging and convergent beam diffraction) and their use in the study of charge density wave materials are discussed. Several recent results on 1T-VSe2, 1T-TaS2, TaTe4, NbTe4, (TaSe4)2I and 2H-NbSe2 are presented.