Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Electrical breakdown was investigated in films of low-density polyethylene by the application of both pulsed waveform and ramped voltages. Stainless-steel ball electrodes and the film to be measured were embedded in a thermoset resin. The breakdown strength FB increased with temperature T, ?FB/?T>0, between about 80?C and 100?C by application of impulse voltages. This temperature range corresponds...
Impulse breakdown in high temperature range in PE is closely related with the melting of crystalline parts and its temperature dependence shows ∂FBI/∂T > 0 until a complete melting of crystalline parts. It suggests that the input energy rate from impulse electrical energy may partly be devoted to the melting of crystalline lamellae and thus enhance the breakdown voltage.
The electronic thermal breakdown may occur in the amorphous phase of low-density polyethylene which consists of half amorphous and half crystalline regions. The breakdown strength is affected by a change in the morphology of the amorphous parts by the elongation of samples having different M.I.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.