Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A compact quasi-optical setup based on conventional rectangular horn antennas and two symmetrical parabolic mirrors is designed to provide a plane wave on the material under test. To measure the scattering parameters at millimeter/submillimeter wavelengths, a commercial vector network analyzer and waveguide frequency extension units are used. The calibration of the system is performed with a simple...
A compact quasioptical setup is designed and optimized for material characterization in the frequency range 50 GHz to 500 GHz. The S-parameters are measured with a commercial Vector Network Analyzer (VNA) together with its mm/sub-mm frequency extenders. A simple practical calibration process is used to determine the diffracted waves on the material surface. A new method is proposed to extract the...
A compact spectrometer setup based on conventional rectangular horn antennas and two symmetrical parabolic mirrors is designed to provide a plane wave on the material-under-test. A commercial Vector Network Analyzer (VNA) and waveguide frequency extension units are used to measure the scattering parameters. A simple practical calibration process is used to determine the S-parameters on the material...
The shielding effectiveness (SE) of building materials is of concern due to the possibility of electromagnetic interference on sensitive equipment located inside the building. The SE of building material could be obtained directly using measurement but it requires expensive and elaborate setup. Alternatively, analytical method is preferable to predict the SE of building material for various conditions...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.