Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a technique for the fault-based test of the analog amplifiers. The circuit defects are modeled with the 2-fault transistor models. The test method combines the amplifier evaluation both in and out of the normal operating region, with the transconductance of the amplifier being the key test parameter. Furthermore, the additional low current test is employed in order to maximize...
This technical paper presents the design and testing of the protection system for evaluation of high-voltage devices and circuits, e.g. SiC and GaN devices or high-voltage switching DC-DC converters. The high-voltage testing area is protected from invading by an array of infrared (IR) emitters and detectors. Whenever an object passes through the IR protected space, a high-voltage DC source is disconnected...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.