Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Monolithic pixel detectors in deep-submicron Fully Depleted (FD) Silicon On Insulator (SOI) technology have been developed and characterized. This summary presents the first assessments of the total dose effect from ionizing radiation performed on such detectors. This work, performed on single transistor test structures, shows how the substrate bias condition during irradiation plays a dramatic role...
A monolithic pixel detector in deep-submicron Silicon On Insulator (SOI) technology has been developed and characterized. This summary presents the first assessments of the effect of ionizing radiation as regards the total dose damage on single transistors in the technology used for the development of the first prototype chip. This work shows the decisive effect of the substrate bias condition during...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.