Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Yield losses due to a combination of random, systematic and parametric defects are rising as manufacturing processes scale to smaller features sizes. In embedded systems-on-chip, yield can be increased using slack-under-utilization in execution and storage resources-so that when components are defective, data and tasks can be re-mapped and re-scheduled. For any given system, the design space of possible...
Wear-out related permanent faults are projected to make system lifetime a critical issue for all designs. In embedded systems, lifetime can be increased using slack, underutilization in execution and storage resources, so that when components fail, data and tasks can be re-mapped and re-scheduled. The design space of possible slack allocation is both large and complex. However, based on the observation...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.