Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The wakeup sequence for power gating techniques has become an important issue as the rush current typically causes a high voltage drop. This paper proposes a new wakeup scheme utilizing an on-chip detector which continuously monitors the power supply noise in real time. Therefore, this scheme is able to dynamically throttle the wakeup sequence according to ambient voltage level. As a result, even...
This paper presents a systematic technique that relates the instructions at the application-level to the cycle-average supply noise. Cost metrics affecting supply noise are maximized and the corresponding activity event is mapped to instructions. We performed experiments on an open-source processor and were able to obtain a higher voltage drop (>;20%) when compared to that of random simulation...
This paper presents a SNR-aware error detection technique for a low-power wavelet lifting transform architecture in JPEG 2000. Power reduction is done by over-scaling the supply voltage (voltage-over-scaling (VOS)). A low-cost SNR-aware detection logic is integrated into the discrete wavelet lifting transform architecture, to check if the image quality degradation caused by the resulting timing errors...
As the supply voltage shrinks with technology scaling, the slightest drop in the voltage level has a significant impact on chip functionality. It is, therefore, important to accurately measure supply voltage noise to evaluate the actual IR drop on-chip and to feed the results to a power management unit, which can scale the voltage and perform on-chip compensation based on the IR drop. In this paper,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.