Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A novel on-chip test circuit to measure single-event transient (SET) pulse widths has been developed and implemented in IBM 130-nm and 90-nm processes for characterizing logic soft errors. Test measurements with heavy ions and alpha particles show transient widths ranging from 100 ps to over 1 ns, comparable to legitimate logic signals in such technologies. Design options to limit the SET pulse width...
Combinational logic soft errors are a major environment-related reliability issue in advanced CMOS processes. The key to determining logic soft error rates (SER) is detailed knowledge of neutron and alpha particle-induced single event transient (SET) pulse widths, but these pulse widths have not been measured previously. experimental results obtained using a novel test chip fabricated in a 90 -nm...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.