Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A review on recent work and developments in dc glow discharges at atmospheric pressure when used as radiation sources for optical atomic spectrometry and mass spectrometry is given. Diagnostics and analytical features of dc glow discharges at atmospheric pressure between conductive solid electrodes as well as with a liquid as the cathode and flowing afterglow sources were described. Possibilities...
In this work the depth-profile analysis of thermoelectric layers deposited on Au and Cr covered Si wafers with the aid of pulsed radiofrequency glow discharge time-of-flight mass spectrometry (pulsed RF-GD-TOFMS also called plasma profiling TOFMS (PP-TOFMS™)) is described. For thermoelectric materials the depth resolutions obtained with both PP-TOFMS and secondary ion mass spectrometry (SIMS) are...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.