Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
As-fabricated (time-zero) variability and mean device aging are nowadays routinely considered in circuit simulations and design. Time-dependent variability (reliability-related variability) is an emerging concern that needs to be considered in circuit design as well. This phenomenon in deeply scaled devices can be best understood within the so-called defect-centric picture in terms of an ensemble...
As-fabricated (time-zero) variability and mean device aging are nowadays routinely considered in circuit simulations and design. Time-dependent variability (reliability variability) is an emerging trend that needs to be considered in circuit design as well. This phenomenon in deeply scaled devices can be best understood within the so-called defect-centric picture in terms of an ensemble of individual...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.