Wyniki wyszukiwania dla: P. Kisała
Metrology and Measurement Systems > 2018 > Vol. 25, nr 3 > 429--440
IEEE Photonics Technology Letters > 2017 > 29 > 24 > 2264 - 2267
Przegląd Elektrotechniczny > 2017 > R. 93, nr 5 > 122--124
Przegląd Elektrotechniczny > 2017 > R. 93, nr 3 > 113--116
Przegląd Elektrotechniczny > 2017 > R. 93, nr 3 > 79--82
Przegląd Elektrotechniczny > 2016 > R. 92, nr 10 > 214--217
Przegląd Elektrotechniczny > 2015 > R. 91, nr 11 > 266-270
Opto-Electronics Review > 2013 > 21 > 3 > 293-302
Opto-Electronics Review > 2013 > Vol. 21, No. 3 > 293-302
Przegląd Elektrotechniczny > 2013 > R. 89, nr 3b > 258--260
Przegląd Elektrotechniczny > 2013 > R. 89, nr 1a > 29--33
Metrology and Measurement Systems > 2012 > Vol. 19, nr 4 > 727-738
Metrology and Measurement Systems > 2012 > Vol. 19, nr 3 > 471-480
Przegląd Elektrotechniczny > 2012 > R. 88, nr 11a > 343-346