Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The purpose of this paper is to discuss the effect of Nickel (Ni) thickness on lead free solder joint material for tape ball grid array (TBGA) application. In this study, four different level of Nickel thickness were chose that is 3 um, 4 um, 5 um and 6 um. Ball pull testing was used to assess the solder joint performance at time zero, after multiple reflow and high temperature storage (HTS). The...
As the world is changing to Pb-free solder per EU ROHS Directive, the higher reflow temperature requirement for Pb- free solder has demanded better substrate metal trace to solder mask adhesion to prevent delamination problem. Hence, selective Ni/Au plating process becomes more appealing in the fabrication of substrates to support Pb-free Semiconductor BGA product packaging. However, the set back...
In this work, Sn3.5Ag solder alloy was being studied for the purpose of Pb-free solder joint reliability improvement over conventional Sn3.8AgO.7Cu solder balls on Ball Grid Array (BGA) packages with Ni/Au pad finishing. The study was carried out in different levels. At individual solder joint level, Sn3.5Ag showed no intermetallic brittle failure in cold ball pull test even up to 6times multiple...
This paper discusses on the effect of number of zincation in electroless nickel immersion gold (ENIG) under bump metallurgy (UBM) on reliability in microelectronics packaging. Double and triple zincation of ENIG methods were used as comparison study. The effect of number of zincation to surface roughness and surface morphology were investigated. All samples were subjected to reliability tests such...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.