Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Negative Bias Temperature Instability (NBTI) has become a major reliability concern in nanoscale designs. Although several previous studies have been proposed to address the NBTI effect during logic synthesis, their performance is limited because of focusing on a certain logic synthesis stage. Additionally, their complicated algorithms are not scalable to large designs. To tackle this, we propose...
A new test system was devised and used to separate the amount of floating gate (FG) charge ($Q_{\mathrm {FG}}$ ) from the oxide trapped charge ($Q_{\mathrm {OX}}$ ) generated by program-and- erase ($P\!/\!E$ ) cycles. We also extracted the pure $V_{\rm mid}$ shift caused by the generation of $Q_{\mathrm {OX}}$ , which is separated from the part of $V_{t}$ shift coming from $Q_{\mathrm {FG}}$ ...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.