Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A nondestructive evaluation system for detecting delamination between a chip and micro bumps in 3D-stacked structures is indispensable for highly reliable and low-cost manufacturing. In stacked structures, it is hard to inspect the adhesion condition of metallic bumps that connect a lower chip with an upper chip because most of the bumps are invisible. We have, therefore, proposed a new nondestructive...
The three dimensionally stacked chip structures of electronic packages and modules have started to be used to maximize assembly density and to minimize signal delay. Since the thickness of the stacked silicon chips has been thinned to less than 100 mum, the local thermal deformation of chips has increased drastically because of the decrease of bending elasticity of the chips. In such a stacked structure,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.